Ежегодная Конференция
Теория и практика разработки и тестирования современных электронных устройств
7 октября 2020
Приглашаем Вас присоединиться к нашей главной конференции года, которая пройдет 7 октября 2020 в Москве
Начало конференции: 10:00 утра (по Москве)
На конференции технические эксперты Keysight Technologies и партнеры поделятся своим опытом и знаниями в данных областях, обсудят наиболее актуальные вопросы, возникающие в процессе работы и применение новейших измерительных технологий в научных исследованиях, разработке и производстве современных электронных устройств.
Программа конференции включает доклады технических экспертов Keysight о технологиях и методах измерений, а также практические демонстрации на специализированных измерительных стендах. Партнеры компании Keysight – Диполь, Maury Microwave, Сиринн, Акметрон, НТНК и другие – представят свои уникальные комплексные решения, уже реализованные в России.
Конференция будет состоять из четырех параллельных сессий в рамках которых будут обсуждаться 12 тем. Каждый участник сможет составить свое индивидуальное расписание и посетить три разных блока в течении дня. Каждый блок длится 2 часа и состоит из теоретической части (основы, ключевые методы и технологии) и практической части.
Пожалуйста, ознакомьтесь с полной программой мероприятия и пройдите регистрацию, заполнив регистрационную форму.
После регистрации мы вам пришлем Ваше индивидуальное расписание и место проведения конференции.
Благодарим Вас за внимание! По вопросам участия, пожалуйста, пишите на наш электронный адрес:
seminar.ru@keysight.com
|
10:00 - 12:00 |
12:30 - 14:30 |
15:30 - 17:30 |
Зал 1
|
Блок 1: Вопросы метрологии: решения для поверки, оснащение лабораторий, новые сервисные решения
|
Блок 5: От школьника до профессионала с Keysight Technologies. Решения для инженерного образования - Часть 1
|
Блок 9: От школьника до профессионала с Keysight Technologies. Решения для инженерного образования - Часть 2
|
Зал 2 |
Блок 2: Разработка и тестирование устройств IoT
|
Блок 6: Разработка и тестирование высокоскоростных цифровых устройств
|
Блок 10: Разработка и тестирование волоконно-оптических систем связи и их компонентов
|
Зал 3 |
Блок 3: Методология тестирования устройств 5G
|
Блок 7: Вопросы эффективности инфраструктуры сетей 5G
|
Блок 11: Полевое тестирование систем связи
|
Зал 4 |
Блок 4: Разработка элементной компонентой базы в условиях реализации планов по импортозамещению
|
Блок 8: Методы контроля качества РЭА на производстве и многоканальные измерения |
Блок 12: Современные методы разработки и тестирования компонентов и узлов радарных и спутниковых систем |